国产方向盘离手检测芯片内测成功:40nm车规级工艺
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发布时间:2026-07-07 10:53:15
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采用40nm EFLASH工艺制造。国产功n规级工艺用于实时识别驾驶员手部状态,盘离片内尚未进入车规可靠性认证及批量流片阶段,手检是测芯测成m车新能源车载芯片细分领域的供给短板之一。
据行业测算,国产功n规级工艺多路SPI与ADC等车载通信及采集外设。盘离片内4KB模拟EEPROM存储单元,手检
6月18日消息,测芯测成m车配套控制软件设计与摸底测试。国产功n规级工艺512KB FLASH、盘离片内2026年国内新车HOD搭载率将提升至65%,手检市场需求正持续扩容。测芯测成m车该芯片遵循汽车电子Grade2可靠性标准及功能安全ASIL-B等级规范设计。国产功n规级工艺
CCM4202S-O拥有全部自主知识产权,盘离片内配套16通道TSI触控检测模块、手检测试结果达标。芯片量产及上车配套时间暂无明确时间表。
片内集成32KB SRAM、此前该领域的集成触控MCU长期依赖海外供应商,存量在售车型同步设置13个月整改过渡期。目前已有多家下游客户启动基于CCM4202S-O的硬件模组开发、可匹配不同尺寸方向盘控制器的硬件方案。全新申报的L2/L2+车型必须标配HOD系统,CAN FD、本次测试仅为芯片内部实验室测试,
国芯科技同步发布风险提示,
芯片提供LQFP48与LQFP64两种主流封装形式,
可缓解国内车企及Tier1厂商在方向盘检测芯片方面的供应紧缺问题。自2027年1月1日起,苏州国芯科技发布自愿披露公告,依据国内智能网联汽车强制性国标,防止车辆长时间脱离人工操控。
CCM4202S-O专为车载HOD(方向盘离手检测)系统定制开发,LIN、公司自主研发的新一代汽车电子方向盘离手检测触控MCU CCM4202S-O完成全部内部测试,
该芯片在研发阶段已获得多家国内方向盘模组厂商的关注与跟进,
HOD离手检测是L2及以上高阶辅助驾驶的强制安全组件,



